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Mahr Konfokale Mikroskopie und Weißlicht-Interferometrie in einem Gerät kombiniert

| Redakteur: Stéphane Itasse

Nahezu alle Oberflächen lassen sich mit dem neuen optischen Oberflächenmessgerät Marsurf CWM 100 zuverlässig erfassen und genau vermessen. Dazu hat der Hersteller Mahr nach eigenen Angaben konfokale Mikroskopie und Weißlicht-Interferometrie in einem Gerät vereint.

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Neue Möglichkeiten eröffnet die Kombination zweier Messmethoden im Oberflächenmessgeräte Marsurf CWM 100.
Neue Möglichkeiten eröffnet die Kombination zweier Messmethoden im Oberflächenmessgeräte Marsurf CWM 100.
(Bild: Mahr)

Die beiden physikalischen Messmethoden sind einzeln nicht an allen Materialien und Oberflächenstrukturen einsetzbar. Ihre Kombination jedoch ermögliche ein sehr weites Anwendungsspektrum.

Mehrere Objektive in einem Revolver ermöglichen schnellen Messmethodenwechsel

Dank mehrerer, an die entsprechende Messmethode angepasste Objektive in einem Revolver wechsle der Nutzer schnell und einfach zwischen verschiedenen Vergrößerungen und Bildfeldgrößen. Ein motorisch angetriebener CNC-gesteuerter X/Y-Tisch verfährt und positioniert den Prüfling automatisch, wie es heißt. Dadurch seien auch Analysen größerer Flächen durch Bildzusammenfügungen (Stitching) einfach, schnell und präzise möglich. Die Auswertung der Profile erfolge über eine integrierte Software. Weiterhin sei die Auswertung mit der neuen Topographiesoftware Marsurf MFM möglich.

Berührungsfreie und dreidimensionale Oberflächenmessungen sind laut Mahr für viele Prüfteile nicht nur wünschenswert, sondern auch zwingend erforderlich. Die topographische Oberflächenmessung sollte wesentliche Forderungen erfüllen:

  • Der Prüfling wird beim Messen nicht beschädigt;
  • die Messung mit flächenhafter Profilerfassung erfolgt innerhalb einiger Sekunden;
  • eine Analyse und Auswertung von zwei- und dreidimensionalen Kenngrößen muss möglich sein.

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